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電阻率四探針測試儀TC-011620 TCWSP-51型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具

紫外輻照計/紫外線強度檢測儀/紫外強度儀 型號：UVB λ：（230～300）nm；λp=254nm （2）UV297探頭 λ：（275～330）nm；λp=297nm

裂縫寬度檢查儀TD-DJCK-2 TD-DJCK系列裂縫測寬儀是我公司針對傳統裂縫顯微鏡不便于觀看的缺點，依據中華人民共和國標準《危險房屋鑒定標準》GJG125-99關于裂縫寬度來評定房屋危險點的相關要求，研制開發的一款專門檢測混凝土結構中裂縫寬度和表面微觀缺陷的儀器。

橋梁撓度檢測儀JZ-BJQN-4A型橋梁振幅檢測儀用于檢測各類橋梁的振動幅度，動、靜態撓曲位移數值，橋梁基座位移，墩臺位移，大型建筑物形變位移等。

是我公司上市的全智能型曲面小孔型光澤度儀是按照標準ISO2813，國外標準ASTMD523，DIN67530及標準GB9754，GB9966，GB/T13891設計生產的，各項技術均達到，并高于JJG696-2002《鏡向光澤度計及光澤度板》鑒定規程中一級工作機的要求。

四探針電阻率檢測儀儀器采用GB/T 1552-1995硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法 （2）范圍：電阻率10-5～10+3歐姆·厘米，分辨率為10-5歐姆·厘米 方塊電阻10-4～10+4歐姆/□，Z小分辨率為10-4歐姆/□ （3）可測量材料：半導體材料硅鍺棒、塊、片、導電薄膜等 可準確測量的半導體尺寸：直徑≥20㎜

電動組織搗碎均漿機TC-000458每分鐘可達12000轉，物料扎起不銹鋼杯中通過電機旋轉驅動旋刀桶式進行劈裂、碾碎、摻合等過程。使用物料攪拌搗碎。本機體積小，消耗功率少，工作效率高。但本機對粘度高的液體和質料硬的物性（如骨石等）均不適宜。

便攜式氯度計 型號：CLS-10B 一、產品用途： CLS-10B型是一種用于測量溶液中氯離子濃度的電化學測試儀器。該儀器適用于水廠、工業、農業、教學、科研等許多領域氯離子濃度的檢測，以便控制被測水樣的氯離子濃度是否達到規定的水質標準。